Z Пресс-центр

Настройки отображения

Размер шрифта:
Цвета сайта
Изображения

Параметры

2018.04.11
Специалисты Института ядерной физики им. Г.И. Будкера СО РАН (ИЯФ СО РАН) разработали технологию оптической диагностики поверхности металла, которая позволяет в реальном времени наблюдать процесс растрескивания вольфрама в результате мощного импульсного нагрева. Метод помогает прогнозировать реакцию этого материала при тепловой нагрузке на первую стенку вакуумной камеры термоядерного реактора ИТЭР. Результаты опубликованы в журнале Physica Scripta. Работа выполнена при поддержке гранта РНФ № 17-79-20203.