С 1973 года в ЦКП разработано и используется более 30 методов и методик, 7 из которых аттестованы:

• In situ дифрактометрия для исследования быстропротекающих структурных изменений
• Исследование быстропротекающих (за микросекунды) процессов, в том числе ударно-волновых и детонационных
• Локальный и сканирующий рентгенофлуоресцентный элементный анализ
• Определение структуры вещества методом аномального рассеяния
• Проведение высокотемпературных рентгендифракционных исследований образцов в ходе протекания химических реакций
• Рентгенодифракционные исследования при высоких давлениях
• Проведение рентгендифракционных исследований структуры веществ в условиях низких температур
• Проведение рентгендифракционных исследований структуры веществ в условиях сдвига под давлением
• Компьютерная томография и микроскопия на пучках СИ
• Рентгеновская топография
• Глубокая рентгеновская литография в толстых (до 1 мм и более) резистивных слоях для изготовления микроструктур, в том числе рентгеношаблонов
• Люминесцентная спектроскопия с высоким временным разрешением
• Определение локальной структуры наноматериалов, аморфных веществ, катализаторов и вновь синтезируемых соединений методом EXAFS-спектроскопии
• Определение зарядового состояния и симметрии окружения элементов в соединениях методом XANES-спектроскопии
• Спектральная калибровка рентгеновских детекторов в "белом" пучке СИ с использованием селективных фильтров
• Терагерцовая абляция биологических образцов
• Диагностика и контроль параметров излучения терагерцового излучения
• Исследование спектров поглощения газов в терагецовом диапазоне с использованием оптико-акустической ячейки
• Исследование процессов деформации и разрушения твердых тел и пленочных материалов методом терагерцовой интроскопии
• Масс-спектрометрическое изучение процессов распада металло-органики при поглощении молекулами под действием излучения ЛСЭ в молекулярном пучке и на поверхности
• Метод стабилизации координаты и угла пучков СИ
• Малоугловое рентгеновское рассеяние с использованием полихроматического излучения
• Порошковая дифрактометрия СИ высокого углового разрешения
• Малоугловое рассеяние биологических объектов с высоким временным разрешением с использованием СИ
• Методика выполнения измерений при определении элементного состава образцов горных пород методом рентгенофлуоресцентного анализа с использованием СИ. Аттестована 13.06.2006
• Методика выполнения измерений массовой доли химических элементов в пробах биотканей методом рентгенофлуоресцентного анализа с использованием СИ. Аттестована 01.12.2006
• Методика выполнения измерений при определении межплоскостных расстояний веществ методом рентгеновской дифракции на СИ с использованием одно-координатного детектора. Аттестована 29.12.2006
• Методика выполнения измерений при определении межплоскостных расстояний веществ методом рентгеновской дифракции на СИ с использованием двух-координатного детектора. Аттестована 29.12.2006
• Методика выполнения измерений температурного коэффициента линейного расширения кристаллических веществ методом дифракции синхротронного излучения с использованием рентгеновского одно-координатного детектора. Аттестована 30.04.2008
• Методика выполнения измерений температурного коэффициента линейного расширения кристаллических веществ методом дифракции синхротронного излучения с использованием рентгеновского двух-координатного детектора. Аттестована 30.04.2008
• Методика выполнения измерений плотности образцов с высоким временным разрешением с помощью синхротронного излучения и детектора рентгеновского излучения. Аттестована 30.04.2008
• Методика выполнения измерений рентгеновской микротомографии геологических алмазосодержащих объектов

Оборудование, входящее в состав ЦКП СЦСТИ, является уникальным. Метрологическое обеспечение оборудования ЦКП СЦСТИ осуществляется на основе методик измерений, разработанных в ИЯФ СО РАН.

В соответствии с частью 3 статьи 1 Федерального закона №102-ФЗ «Об обеспечении единства измерений», данные методики не относятся к сфере государственного регулирования обеспечения единства измерений. На основании этого и в соответствии с пунктом 4.3 ГОСТ Р 8.563—2009 «Государственная система обеспечения единства измерений. Методики (методы) измерений», данные методики не подлежат обязательной метрологической экспертизе, которую проводят государственные научные метрологические институты, соответственно, не требуется аттестация методик измерений, а также передача сведений в Федеральный информационный фонд по обеспечению единства измерений.